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芯片破壞性檢測(cè)有必要嗎？破壞后能得到什么
2024-04-24關(guān)鍵字：IC真?zhèn)悟?yàn)證,破壞性檢測(cè),丙酮測(cè)試,刮擦測(cè)試,開(kāi)蓋測(cè)試
華強(qiáng)檢測(cè)支招如何辨別假冒偽劣芯片
2024-04-16近年來(lái)，隨著科技的飛速發(fā)展，芯片作為核心部件，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。然而，一些不法商家為了追求利潤(rùn)，生產(chǎn)并銷售假芯片，給消費(fèi)者帶來(lái)了極大的損失。這種行為不僅侵害了消費(fèi)者的合法權(quán)益，也損害了整個(gè)市場(chǎng)的公平競(jìng)爭(zhēng)。
關(guān)鍵字：外觀檢測(cè),標(biāo)簽檢測(cè),劣質(zhì)芯片檢測(cè)
X-ray只能用于真?zhèn)螜z測(cè)？那是你對(duì)他的了解太少了！
2024-04-12X-ray/X射線檢測(cè)就是一種常見(jiàn)的無(wú)損檢測(cè)方法，它通過(guò)使用平面探測(cè)器或膠片來(lái)獲取和分析物體的投射影像，以檢測(cè)內(nèi)部缺陷和結(jié)構(gòu)問(wèn)題。作為一種非破壞性檢測(cè)方法，X-ray/X射線檢測(cè)可以在不破壞樣品的情況下快速檢測(cè)被檢測(cè)物體內(nèi)部質(zhì)量和異物的內(nèi)部質(zhì)量和異物。
關(guān)鍵字：X-ray檢測(cè),X射線檢測(cè),無(wú)損檢測(cè),非破壞性檢測(cè)
