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服務(wù)項(xiàng)目
Project我們的項(xiàng)目
車載集成電路可靠性驗(yàn)證
環(huán)境類試驗(yàn)
機(jī)械類試驗(yàn)
腐蝕類試驗(yàn)
IP防水/防塵試驗(yàn)
車電零部件可靠性驗(yàn)證(AEC)
板階 (BLR) 車電可靠性驗(yàn)證
車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗(yàn)證
可靠度板階恒加速試驗(yàn)
間歇工作壽命試驗(yàn)(IOL)
可靠度外形尺寸試驗(yàn)
可靠度共面性試驗(yàn)
車用電子主要依據(jù)國際汽車電子協(xié)會(huì)(Automotive Electronics Council，簡稱AEC)作為車規(guī)驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)，其測試條件雖然比消費(fèi)型芯片規(guī)范嚴(yán)苛，但測試條件仍以JEDEC或MIL-STD為主，另外加入特殊規(guī)格，例如電磁兼容性(EMC)驗(yàn)證。
產(chǎn)品壽命測試、推拉力測試、錫球接合強(qiáng)度測試、彎曲測試等
AEC-Q100(集成電路IC)、AEC-Q101(離散組件)、AEC-Q102(離散光電LED)、AEC-Q103(壓力傳感器/麥克風(fēng)) 、AEC-Q104(多芯片組件)、AEC-Q200(被動(dòng)組件)